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SoC電路的自動測試方法研究
金晶晶 中國電子科技集團公司第四十七研究所; 沈陽110032
關鍵詞：片上系統 內核 啟動程序 自動測試
摘要：片上系統SoC作為集成了多種類型外設、面向特定用途的標準產品,對其進行全面測試是保證產品能夠可靠工作的必要環節,然而由于工作受內核控制,不能通過施加簡單激勵來得到期望狀態進行測試。故此提出一種基于自動測試設備的SoC電路自動測試方法。通過介紹自動測試程序的開發流程,對啟動程序和自動測試程序進行設計,建立起自動測試的實現方案。以C8051F500-IQ電路為例,在UltraFLEX自動測試系統實現了自動測試,測試結果表明該方案能夠完成對電路功能與性能的全面評價。
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