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高頻光電導衰減法測試硅單晶少子壽命的精密度分析
張園園; 楊素心 洛陽中硅高科技有限公司; 洛陽471023; 中國有色金屬工業標準計量質量研究所; 北京100080
關鍵詞：太陽能級多晶硅 少子壽命 準確性 重復性 再現性
摘要：為驗證少子壽命是否可做為太陽能級多晶硅級別判定的技術指標，將原生多晶硅區熔為硅單晶后，15家光伏實驗室采用高頻光電導法測試少子壽命。分別對硅單晶的表面和端面進行測試，分析兩者重復性的差異，確定少子壽命取值已表面測試為準。采用Z比分數法對數據進行重復性檢驗、“值檢驗法進行準確性分析、疋。檢驗法進行再現性分析，最終得出少子壽命可作為多晶判級依據的結論。
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